图2 实验E3 的芯片断面形貌
Fig.2 SEM photo of the chip thermistor for experiment E3
2.4 玻璃釉包覆产品与未包覆产品的性能比较表6 为玻璃釉包覆产品与未包覆产品的性能对比结果从表6 中可以看出包覆产品的阻值精度更高稳定性更好产品的可靠性得以提高
3 结论
1 通过玻璃浆与银浆的工艺调整实验优选烧结方片尺寸为33 mm 33 mm 确定以表面光滑致密的高铝瓷片作为承烧板选择匹配完好的玻璃浆B3烧渗温度为840~860 带速8 cm/min 和银浆C1烧渗温度为670~700 研制成功了玻璃釉包覆型 片式NTC热敏电阻
2 所研制的产品比传统的片式NTC 热敏电阻具有更高的精度更好的稳定性更高的可靠性该产品具有广阔的市场空间。